安捷倫科技近日宣布，將于2007年3月13日和15日分別在上海和北京，舉辦安捷倫首屆納米技術與測量解決方案研討會。本次研討會作為安捷倫在全球范圍內為納米技術研究人員介紹測量產品的一個重要組成部分，將吸引來自國家、?。ú浚?、市、校、所的各級實驗室，從事納米技術研究的科學家、學者、工程師以及涉及納米技術領域的專家、教授、學生和相關工作人員的廣泛參與。

      隨著納米測量工具的不斷增加，擴大了從生命科學、化學到電子學領域對納米測量產品的需求，例如，原子力顯微鏡(AFM)、參數測試儀、納伏表、化學分析儀以及微陣列等。如今，納米技術已是很多安捷倫（Agilent）客戶從事的工作中心。因此，它也是安捷倫的業(yè)務中心。納米技術領域的研究人員希望了解最新納米系列設備的化學含義、物理尺寸和外型以及電學性質。這些設備的測量雖然要求極為精確但其測量方法卻對操作者的要求較低，而這正是長期以來安捷倫的專長。

      安捷倫原子力顯微鏡、半導體器件分析儀、阻抗分析儀、材料分析儀、脈沖發(fā)生器和其它通用儀器的專家們，將在會議現場進行測量儀器的演示。研討會設有七大主題，分別是“安捷倫在納米技術中的貢獻”

     “多用途的掃描探針顯微鏡”、“碳管場效應晶體管的納米探測和評估”、“納米器件的阻抗測量”、“納米技術中的材料分析”、“使用脈沖發(fā)生器檢定納米器件”和“用于納米技術研究的通用儀器”，可使納米技術研究人員實現研發(fā)與不斷創(chuàng)新。

      安捷倫廣泛的測試測量產品系列和解決方案，致力于幫助研究人員在電學、化學、生物學、分子學、原子等方面在納米尺度上進行成像、操縱和檢測。本次研討會,將會幫助與會者充分地了解安捷倫納米技術測量解決方案在未來的發(fā)展方向，提升在納米技術領域的科研，教學及市場各方面的競爭力。