全球領(lǐng)先的半導(dǎo)體測(cè)試公司惠瑞捷半導(dǎo)體科技 (NASDAQ: VRGY) 今日宣布將可編程接口矩陣應(yīng)用于Verigy V5000e 工程工作站，以幫助存儲(chǔ)器制造商在應(yīng)用V5000e進(jìn)行工程，測(cè)試開(kāi)發(fā)和調(diào)試時(shí)獲得并行測(cè)試能力。憑借該矩陣，V5000e 可以并行測(cè)試12顆芯片（DUT），減少產(chǎn)線上的操作人員的時(shí)間，同時(shí)大幅度提高了總產(chǎn)能。此矩陣還將V5000e的引腳數(shù)量從128提高到768個(gè)測(cè)試器資源引腳，從而能夠測(cè)量具有更高引腳數(shù)量的多種類型存儲(chǔ)器芯片，包括NOR、NAND、DRAM、SRAM以及 MCP。

      由于產(chǎn)品壽命周期不斷縮短，制造商需要將測(cè)試開(kāi)發(fā)時(shí)間降至最低。同時(shí)，各種存儲(chǔ)器芯片在測(cè)試平臺(tái)上有了更多的融合。為了應(yīng)對(duì)測(cè)試所有這些類型芯片所面臨的挑戰(zhàn)，制造商需要面向工程開(kāi)發(fā)的測(cè)試系統(tǒng)具有并行能力和靈活性。然而，在工程開(kāi)發(fā)的環(huán)境下，如果使用成熟的面向大規(guī)模生產(chǎn)的測(cè)試系統(tǒng)既不能節(jié)省成本，通常也不符合實(shí)際。配備了矩陣的V5000e 就可以應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn)，降低測(cè)試開(kāi)發(fā)時(shí)間。

      惠瑞捷存儲(chǔ)測(cè)試解決方案部門(mén)副總裁兼總經(jīng)理Gayn Erickson說(shuō)：“對(duì)于那些正在尋找一套測(cè)試開(kāi)發(fā)系統(tǒng)的存儲(chǔ)器制造廠商而言，以前最佳的選擇就是花費(fèi)數(shù)百萬(wàn)另建一套最終測(cè)試系統(tǒng)。然而借助于該矩陣，V5000e的用戶可以在測(cè)試開(kāi)發(fā)和調(diào)試的環(huán)境下使用這些功能?！?/FONT>