中國計量網(wǎng) http://xmkhcs.com/
中國計量網(wǎng)——計量行業(yè)門戶網(wǎng)站
計量資訊速遞
您當前的位置: 首頁 > 新聞 > 科研動態(tài)

新一代X光顯微鏡問世 可拍三維納米照片 (2006-07-14)

發(fā)布時間:2007-12-04 作者: 來源: 瀏覽:930
俄羅斯彩帶網(wǎng)7月10日消息,澳大利亞科學(xué)家最近開發(fā)出新一代X光顯微鏡,可以拍攝三維納米照片。   據(jù)專家們介紹,這種新型顯微鏡不僅能夠清楚地觀察到所研究物體表面極其微小的細節(jié),還能夠直接觀察研究目標的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。它的研究對象包括密實的均質(zhì)材料、晶體、層狀物體以及疏松物體等。   該新型顯微鏡能夠以分層研究的方式從不同角度對一個物體的同一部位進行拍照從而得出整個物體的三維結(jié)構(gòu)照片。它所拍攝的照片最大分辨率可達50納米。   在該新型顯微鏡投入批量生產(chǎn)之前,澳大利亞的XRT公司仍繼續(xù)對其操作方式和信息處理性能進行進一步的調(diào)試。該顯微鏡的生產(chǎn)廠家為澳大利亞XRT有限公司,預(yù)計該顯微鏡在進入批量生產(chǎn)階段后將被廣泛用于各個科學(xué)領(lǐng)域。
分享到:
通知 點擊查看 點擊查看
公告 點擊查看 點擊查看
會員注冊
已有賬號,
會員登陸
完善信息
找回密碼