美國(guó)Keysight（是德科技）計(jì)量科學(xué)家赴上海院作學(xué)術(shù)報(bào)告
發(fā)布時(shí)間：2018-02-06
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來(lái)源：上海市計(jì)量院
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近日，全球知名的電子測(cè)試儀器設(shè)備制造商Keysight（是德科技）的高級(jí)計(jì)量科學(xué)家Ken Wong應(yīng)邀赴上海院電子電氣所做學(xué)術(shù)報(bào)告。
Ken Wong先生為HP（惠普）、Agilent（安捷倫）、Keysight（是德科技）服務(wù)46年，是ARFTG的成員以及IEEE的高級(jí)會(huì)員。他先后從事產(chǎn)品設(shè)計(jì)、產(chǎn)品生產(chǎn)流程開(kāi)發(fā)、射頻微波產(chǎn)品及測(cè)試流程開(kāi)發(fā)，負(fù)責(zé)微波參考標(biāo)準(zhǔn)開(kāi)發(fā)建模及測(cè)試工作以及矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的校準(zhǔn)方法研究，獲得過(guò)多個(gè)美國(guó)專利。
Ken Wong此行帶來(lái)了最新發(fā)表的研究成果：量化噪聲參數(shù)對(duì)Y因子法噪聲系數(shù)測(cè)量的誤差貢獻(xiàn)。Y因子法是確定被測(cè)設(shè)備（DUT）的噪聲系數(shù)（NF）或有效輸入噪聲溫度（Ta）的最常用技術(shù)，Ken Wong的研究解決當(dāng)Y因子法的真實(shí)環(huán)境與理想假設(shè)不符時(shí)測(cè)量誤差大的問(wèn)題，給出一個(gè)預(yù)測(cè)由噪聲源反射系數(shù)引起的附加不確定性的新模型。此外還介紹了世界無(wú)線電微波計(jì)量發(fā)展演變趨勢(shì)，介紹了有源器件/變頻器件/毫米波太赫茲器件測(cè)試的最前沿技術(shù)與最新測(cè)量手段?；顒?dòng)現(xiàn)場(chǎng)還進(jìn)行最新測(cè)量技術(shù)的操作實(shí)踐，我院電子電氣所技術(shù)人員踴躍參與、積極互動(dòng)，并就日常工作當(dāng)中遇到的測(cè)量難題進(jìn)行熱烈地討論。
通過(guò)此次與是德科技計(jì)量專家的交流，上海院技術(shù)人員獲取了業(yè)內(nèi)最新的動(dòng)態(tài)和技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)，對(duì)如今國(guó)際最新的無(wú)線電計(jì)量技術(shù)和領(lǐng)先的計(jì)量測(cè)試設(shè)備的發(fā)展有了全新的了解。
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