日前，中國計量科學(xué)研究院（以下簡稱“中國計量院”）和重慶市計量質(zhì)量檢測研究院在渝聯(lián)合承辦“新材料與納米技術(shù)基礎(chǔ)與共性技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)制定培訓(xùn)會”。會議由中國材料與試驗團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)委/基礎(chǔ)與共性技術(shù)分委（CSTM/FC00）主辦，全國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會（以下簡稱“納標(biāo)委”）協(xié)辦。CSTM常務(wù)副秘書長楊植崗，納標(biāo)委秘書長王孝平，中國計量院相關(guān)專業(yè)所負(fù)責(zé)人等四十余位來自各省市計量技術(shù)機(jī)構(gòu)、科研院所、高校和企業(yè)的代表與會。會議由CSTM/FC00秘書長、中國計量院任玲玲副研究員主持。

       培訓(xùn)會為期2天。首日活動主要圍繞“標(biāo)準(zhǔn)化分析方法研究和方法標(biāo)準(zhǔn)編寫”“專利標(biāo)準(zhǔn)化的案例與創(chuàng)新”兩大主題展開。通過聽取專家講座，學(xué)員們詳細(xì)了解了標(biāo)準(zhǔn)選用試驗方法的條件、新分析方法研究步驟、重現(xiàn)性和再現(xiàn)性試驗、方法不確定度評定及方法標(biāo)準(zhǔn)編寫，以及專利與標(biāo)準(zhǔn)的各自特征、專利融入標(biāo)準(zhǔn)的模式、石墨烯領(lǐng)域?qū)＠麡?biāo)準(zhǔn)化創(chuàng)新等內(nèi)容。學(xué)員們還結(jié)合各自在標(biāo)準(zhǔn)制定方面遇到的問題與授課專家進(jìn)行了深入交流。

圖1 會議現(xiàn)場

       會議還審議了《測量方法標(biāo)準(zhǔn)編制通則》《標(biāo)準(zhǔn)編制說明編寫指南》《單壁碳納米管分散濃度測量方法-紫外光譜法》《超薄薄膜厚度測量-原子力顯微鏡》和《Si/SiO2基底石墨烯薄膜層數(shù)測量方法-溫度曲線法》等團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)草案，就團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)編寫規(guī)范、注意事項等問題進(jìn)行了研討。

圖2 與會人員合影

       培訓(xùn)會為推動我國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)體系建設(shè)，促進(jìn)納米新材料領(lǐng)域“團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)”在規(guī)范市場競爭秩序、支撐產(chǎn)業(yè)發(fā)展方面發(fā)揮了積極作用，是為滿足我國相關(guān)產(chǎn)業(yè)轉(zhuǎn)型發(fā)展需要，支撐新技術(shù)推廣應(yīng)用的具體行動。（圖/文：任玲玲、李碩）